誘電体テスト機器
PolyK Technologies LLC (USA) 製 誘電体･強誘電体･圧電体やスマートマテリアル他の、様々なアプリケーション及び関連するテストなどに特化した低コストな製品群を、国内外の研究者の方々にご提供しています。
【このシステムの特徴】
ユーザー保有製品や一流メーカーの市販品、再生品(1年保証)などを組み合わせ、PolyK社オリジナルの統合ソフトウエアによるオペレーションが可能なシステムとなっている為、低コストながら高いパフォーマンスを発揮することができます。
低コスト誘電体テストシステム
市販品・既存品や再生品を活用しコスト削減
キャパシタンス（誘電率）測定
誘電損失vs周波数、温度の測定
＜構成＞
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精密LCR メータ（ユーザー保有品または再生品も可）
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温度チャンバ（液体窒素冷却）
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LabView 制御ソフトウエア
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複数(15 個)試料を一度にテスト可能
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最高温度250℃
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DF 精度＜0.1%
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TSDC テストシステムに容易に拡張可能
高電圧DCバイアステスト
非線形誘電体測定
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高電圧キャパシタンステストでの試料の絶縁破壊時に、高価な LCR メータやインピーダンスアナライザを保護
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DC バイアス: ±4000V
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周波数:100 Hz～100 kHz
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温度: -184℃～250℃
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温度チャンバ：上記の誘電体テストシステムまたはTSDC テストシステムとの共用が可能
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普及型LCR メータやインピーダンスアナライザとの互換性 ※ユーザー保有機の使用が可能
強誘電体分極ループと絶縁破壊テストシステム
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パソコンとTrek 高電圧アンプ（再生品によるコストダウンも可能）
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ソフトポリマフィルム用のテストフィクスチャ含む
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ソフトウエアは、充放電エネルギー密度をダイレクトに与え、エネルギー密度vs テストサイクルのサマリーファイルが付いたライフタイムテストが可能
高電圧漏れ電流、TSDC、焦電性テストシステム
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テスト電圧： 10 kV
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温度： -150℃～300℃
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高感度、漏れ電流精度＜1 pA
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マルチ機能が一つに：TSDC、焦電性と漏れ電流
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薄膜・フィルムなど柔軟試料のダメージ防止の為、安定した最小の力を与えるスプリング電極
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ASTM D257 テストの為のガードリング
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PC 自動制御TSDC テスト
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モジュラーデザイン：誘電体テストシステムとの温度チャンバの共用が可能
極低温高電圧テストフィクスチャ
15チャンネル
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電圧： 15 kV 温度： -184℃～250℃
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15 チャンネル：温度の安定化と結露防止の為、時間の節約として15 個／バッチのテスト可能
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ドライ窒素（又はエア）パージコネクタ発生なし
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ステージの温度が試料と異なる可能性がある競合するシステムよりも、油中でより安定で正確
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試料は絶縁流体に浸潤する為、アーク放電無し
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誘電テスト／TSDCテストシステムとの共用可能
キャパシタ充放電テストシステム
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キャパシティブサンプルの放電速度とエネルギーを100ns の速度で直接測定
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電圧>15 kV
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静電容量：10 pF から1 mF 以上
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ライフサイクル試験が可能なコンピュータ制御
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誘電体膜（100 pF〜10 nF）の評価用に特別に設計
高温チャンバ HT-600／HT-800
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高温での誘電率(C, tan δ, インピーダンス) 測定
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常温～800℃または1000℃まで
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Pt 電極
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アルミナ断熱
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オメガＴコントローラ
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PC 制御
ECE 電気熱量効果測定システム
Nature誌、600号、664～669ページ（2021年）
「高エントロピーポリマーは低電場において巨大な電気熱量効果を生み出す」
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ペンシルベニア州立大学の研究者によって発明されたこの製品は、ECE材料から発生する熱を直接測定が可能で、高精度な校正プロセスにより、正確な熱測定を保証
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校正と高電圧テストを簡単に切り替えられるサンプルホルダを内蔵
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SR560プリアンプを保護する保護回路
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熱流束と温度の両方を測定できる小型熱流束センサは、非常に小型で、熱質量も最小限
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応答速度：0.1秒未満
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熱抵抗：0.01 oF/BTU/ft2-hr
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出力信号：>3 uV/BTU/ft2-hr
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熱容量：0.02 BTU/ft2/◦F
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広帯域、ノイズフィルタリング、増幅率を備えたStanford Research Systems SR560プリアンプ
