PolyK Technologies LLC (USA) 製 誘電体･強誘電体･圧電体やスマートマテリアル、及びその他の様々なアプリケーションや関連するテストなどに特化した低コストな製品群を、国内外の研究者の方々にご提供しています。

ユーザー保有機器や一流メーカー機器、再生機器(1年保証付き)などを組み合わせ、PolyK社オリジナルの統合ソフトウエアによるオペレーションが可能なシステムとなっており、低コストで高いパフォーマンスが発揮できます。

＜誘電体および強誘電体テスト機器＞

強誘電体、圧電体、および高電圧誘電体材料は非常に特殊な技術であるため、研究者は独自のテスト装置を開発する必要があります。この分野の研究者の時間と労力を節約するため、PolyKは、特に新たな材料を研究する全ての研究者に、低価格のテストシステムをご提供できます。

PolyK社の主なシステムは、以下の通りです。

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１．ターンキー誘電体テスト装置：

再生品の、Agilent/HP/Keysight高精度LCRメーター（20Hz～1MHz）やインピーダンスアナライザ、液体窒素冷却機能付き恒温槽（-184℃～250℃）、5チャンネルサンプルフィクスチャ、およびコンピュータ制御ソフトウェアが含まれており、わずか20,000ドルという非常に低価格な試験システムです。

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２．高電圧DCバイアス(+/-4000V、20mA)下での誘電率（静電容量）と誘電正接テスト：

PolyK保護回路により、試験片の絶縁破壊によって高価なLCRメーターが損傷を受けることはありません。周波数は100Hz～100kHzです。標準チャンバーによる温度制御も可能です。

 

３．TSDC、高電圧リーク、焦電試験システム：

このシステムは、テストフィクスチャとコンピュータプログラムを備えており、Keithley 6517電位計を用いて、様々な電圧と温度で微弱電流（< pA）を測定できます。同じ温度チャンバーを共有することで、誘電体テストシステムとの統合が可能で、大幅にコストを削減できます。価格は13,000ドルからと低価格です。

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４．分極ループおよび高電圧誘電体テストシステム：

高エネルギー密度フィルムコンデンサに関する弊社の社内研究開発の一環として開発されました。このシステムは低コストでありながら全自動のテストシステムであり、強誘電体および誘電体材料の分極ループを収集し、エネルギー密度と充放電効率を自動的にレポートするとともに、絶縁破壊強度を測定することができます。

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５．キャパシタ充放電システム：

この装置は、高速MOSFETスイッチと高電力負荷抵抗器を用いて、小型コンデンサ（100pF～100uF）の放電速度とエネルギー密度を評価できます。サブマイクロ秒の放電速度を測定できます。

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６．極低温～高電圧テスト用フィクスチャ：

広い温度範囲、特に室温以下（低温または極低温）における誘電破壊および強誘電体分極ループを試験するための高電圧試験治具です。冷却剤として液体窒素を封入し、誘電液はエアアークを防止します。15個のサンプルを一括でテストできます。

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７．高温ターンキー誘電体測定システム：

​この低コストの高温ターンキーテストシステムは、誘電体材料の静電容量（誘電率）、誘電正接、またはその他の複素インピーダンスパラメータを温度(<600℃  <800℃または<1000℃)と周波数の関数として測定するために使用できます。

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８．ECE 電気熱量効果測定システム：

​Nature誌、600号、664～669ページ（2021年）
「高エントロピーポリマーは低電場において巨大な電気熱量効果を生み出す」

​ペンシルベニア州立大学の研究者によって発明されたこの製品は、ECE材料から発生する熱を直接測定が可能。高精度な校正プロセスにより、正確な熱測定を保証します。

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９．マルチ機能の温度チャンバー：

​前扉に測定治具を設置、治具交換が容易、チャンバ１台で５種類のテストが可能

​ ①誘電体テスト

 ②漏れ電流・ＴＳＤＣ・焦電性テスト

 ③強誘電体PEループと絶縁破壊テスト

 ④誘電体テスト(4kV DCバイアス)

 ⑤温度チャンバ単体 (標準帯域: -184℃～315℃)

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10．強誘電体変位(歪み)測定システム：

これはPolyK CPE1901強誘電体テストシステムのオプションです。

このオプションは、MTI 2100フォトニックセンサーとPolyKテストフィクスチャを用いて、高電圧下における強誘電体および圧電材料の変位（歪み）を測定します。

 

その他の試験システム：

温度、周波数、相対湿度、高電圧、または電流を組み込んだカスタムデザインのご提供が可能です。​​​